사업소개

전기전자 신뢰성 시험

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전기전자 신뢰성 시험이란?

제품이 주어진 기간 동안 주어진 조건에서 요구 기능을 수행할 수 있는 가능성
  • 국책과제 결과물 평가
  • 신뢰성 컨설팅, 신뢰성 시험평가, 신뢰성 기술개발 및 분석
  • 가속수명시험 설계 및 지원
  • HW BMT (Bench-mark Test)
  • 그 외 신뢰성에 관련한 성능 평가

전기전자 신뢰성 시험 기본절차

절차안내
  1. 상담 - 위치 : 경기분원 신뢰성동(D동) 3층
    • 해당 시험 상담
    • 시험 절차서
  2. 신청서 작성 - 위치 : 경기분원 신뢰성동(D동) 3층
    • 기술지원신청서
    • 개인정보 제공 / 이용 동의서
  3. 신청서 접수 - 위치 : 경기분원 고객지원팀(C동) 1층
    • 기술지원 신청서
    • 개인정보 제공 / 이용 동의서
    • 사업자등록증사본
  4. 성적서 발급 - 위치 : 경기분원 고객지원팀(C동) 1층
    • 성적서 발행
  5. 시험/검사/분석 - 위치 : 경기분원 신뢰성동(D동)
    • 시험예상일정 제공
  6. 수수료 납부 - 위치 : 경기분원 고객지원팀(C동) 1층
    • 청구/영수 계산서 발행

환경시험

설명

  • 제품이 수명주기 동안 저장, 운송 및 사용조건에서 겪을 것으로 예상되는 환경 스트레스에 견딜 수 있는지 평가하기 위한 시험

시험 항목

  • 기후적 환경시험 : 온습도, 가압, 저기압, 열충격, 태양광, 비, 먼지 등
  • 기계적 환경시험 : 진동, 충격, 낙하 등

표준(규격)

  • IEC 60068-2, DIN 75220, IPC-TM-650, GS-6110, 전력량계 기술기준, IEC 61850, IEC 60255-21, IACS UR E 10, JEDEC, AEC, KR GC-01-K, ES95400-10, HES-T201, Renault 36-00-802―N, GMW3172, VEX_P2700, VEX_T3002, ISO16750, SES_E001_04_09 등

성능시험

설명

  • 제품의 특성을 결정하거나 특성이 요구 사항에 적합한지를 판정하기 위한 시험

시험항목

  • 접촉저항, 절연저항, 임피던스, 전류, 전압, 내전압, 전력, 반도체 특성, 필터 성능, LCR 특성, 광특성, 발광형 교통표지판 동작성능, IoT 기기 및 센서 동작성능, DTG 성능 등

고장률 및 수명시험

설명

  • 고장률, 평균수명(MTTF, MTBF), B10수명 등의 신뢰성 목표를 보증하기 위한 시험

시험항목

  • 고장률 : 제품이 사용기간 중에 고장 날 확률로 대표적으로 MTTF, MTBF, B10 등의 척도 사용
  • MTTF : 수리 불가능 제품의 고장시간들의 평균
  • MTBF : 수리 가능 제품의 고장과 고장 사이의 간격 시간들의 평균
  • B10 수명 : 누적 고장확률이 10%가 되는 시점, 90% 확률로 생존하는 수명
  • 그 외에 가속수명 시험평가 개발, 신뢰성시험 기준 개발, 신뢰성 향상 컨설팅

    • HW BMT (Bench-mark Test)

    설명

    • BMT는 발주처(의뢰자)가 요구하는 필수 기준에 대해 충족 여부의 성능을 비교하고 일련의 수행 결과를 분석 평가하는 시험

    시험항목

    • 금융업무용 전산장비
    • 우편업무용 전산장비
    • PDA 및 모바일프린터
    • 무인우편

      • 시험표준(KOLAS인정 범위)

      업무분야 다운로드

      신청양식

      담당자 안내

      부서,담당업무,담당자,전화번호,이메일로 구성된 담당자 테이블
      부서 담당업무 담당자 전화번호 이메일
      신뢰성검증센터 - 기후적 시험평가(IEC 60068-2 series : 저온, 고온, 온습도, 열충격, 고도 등)
      - 기계적 시험평가(IEC 60068-2 series : 진동, 충격, 낙하 등)
      - 과제 지원(신뢰성 컨설팅, 신뢰성 시험평가 개발, 가속수명 설계)
      - 특수목적단말기(산업용PDA, Mobile Computer 등) 시험평가
      - 특수목적평가(IEC60068-2-5, MIL-STD810G change 505.5, DIN75220 : 일사, 일광, 촉진내후성)
      - HW BMT (Bench-mark Test)       		강병일 031-500-0433
      신뢰성검증센터 - 가속수명/고장률시험
      - 환경(고온고습/저온/고온/진동/충격/열충격/가스부식)
      - EDLC(배터리) 용량 및 충방전사이클
      - TDR(특성임피던스)
      - 커패시터(C, ESR/Q 및 IR)
      - 인덕터(L, ESR)
      - 릴레이특성평가
      - 소형전력기기평가
      - DTG(운행기록계)
      - AEC(JEDEC)평가
      - 철도차량용기기평가
      - 르노환경시험(36-00-802)외 자동차부품 환경시험
      - 출장(입회)시험
      - 과제평가 및 수행       		임국주 031-500-0432
      신뢰성검증센터 - 국책과제 결과물 평가
      - 전자부품신뢰성평가
      - 가속 수명 및 고장률 시험
      - HAST/PCT 시험
      - 이온마이그레이션 시험
      - 절연저항 및 내전압 평가
      - 전기 필터 신뢰성평가
      - 스위치 신뢰성평가
      - 반도체 성능 시험       		정민호 031-500-0431
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